Hejmo
La novajxoj
Traduko
Projekto
Forumo
Helpo
Uzantojn
Ensalutu
Enregistru
. .
•Profilo
Freakazoid
▪▪Ĉiuj tradukoj
•Petitaj tradukoj
•
Favoritaj tradukoj
•Listo de projektoj
•Leterkesto
▪Libera lingvo-interÅanÄo
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
▪▪Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Ĉiuj tradukoj
Serĉu
Ĉiuj tradukoj - Freakazoid
Serĉu
Font-lingvo
Cel-lingvo
Rezultoj 1 - 1 de proksimume 1
1
411
Font-lingvo
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Kompletaj tradukoj
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1